LEPTOSKOP2042NFE统计型涂层测厚仪
● LEPTOSKOP2042涂层测厚仪具有精准的测量技术和简单的操作方法，是万能的涂层测厚仪。通过解锁代码，可以使仪器在现场迅速的升级。

LEPTOSKOP2042NFE统计型涂层测厚仪

● LEPTOSKOP2042涂层测厚仪是一种经济的产品，电池寿命长，可以连续工作100小时以上。仪器记录工作时间和测量数量，因此一些重要的参数可以被保存。

● 彩色的橡胶皮套也是在供货范围内，可以保护仪器在工业环境中意外滑落不受损害。

● 仪器将一种把测厚值显示为模拟指针的工具和近似WINDOWS一样的文件管理系统相结合，同时提供10种可供任意选择的语言，以满足客户的各种需求。

● LEPTOSKOP2042涂层测厚仪 利用磁感应法(DIN EN ISO 2178)测量铁磁基体上的非铁磁层的厚度并且利用涡流法(DIN EN ISO 2360)测量非铁磁材料上覆盖的非导电层厚。

EPTOSKOP2042涂层测厚仪 技术参数

数据传输接口RS232 或　USB
电源：电池、充电电池、USB或外接电源
测量范围: 0 - 20000 um (取决于探头)
测量速度:　每秒测量2个数值
存储: 多 9999 个数值，140个文件
误差:
涂层厚度 < 100 um: 1% 读数 +/- 1 um (校准后)
涂层厚度 > 100 um: 1-3% 读数 +/- 1 um
涂层厚度 > 1000 um: 3-5% 读数 +/- 10 um
涂层厚度 > 10000 um: 5% 读数 +/- 100 um

LEPTOSKOP2042NFE统计型涂层测厚仪