硅光电二极管（400nm-1100nm）测量太阳总辐射
高性价比
mv输出
快速响应

LP Silicon-PYRA 04日射强度计通过一个硅光电二极管（400nm-1100nm）测量太阳总辐射。

特殊的几何构造和散光器根据余弦定律可以测量180度范围内的总辐射场。

该日射强度计可以测量自然界的阳光。阴天时，使用热电堆日射强度计（LP PYRA 03 或 LP PYRA 02）测量反射光。

LP Silicon-PYRA 04日射强度计可以测量可再生能源的太阳辐射，如太阳能光热和太阳能光伏。

LP Silicion-PYRA 04日射强度计的光谱响应没有覆盖所有的太阳光谱，也不是恒定的。

只有LP Silicion-PYRA 04日射强度计经过光校准，且校准光的光谱和所测光谱是*的之后，才能精确测量。

在天气晴朗的条件下，该日射强度计测量的辐射值不确定性小于3%。

阴天、日出或日落时，太阳光谱和仪器校准的光谱大不一样，因此测量误差会增加。

技术参数：

典型灵敏性：20μV/(W/m2)

测量范围：0-2000W/m2

光谱范围：350nm-1100nm

响应时间：0.5秒

非线性：1%

温度漂移：<±0.15%/ °C

校准的不确定性：<3%

根据余弦定律响应：±3%（在0°…75°范围内）

工作温度：-40°C + 65°C

阻抗输出：25 Ω